Inici
Notícies
Traducció
Projecte
Fòrum
Ajuda
Usuaris
Iniciar Sessió
Registrar-se
. .
•Perfil
kazandibi00
•Totes les traduccions
▪▪Traduccions sol·licitades
•
Traduccions favorites
•Llista de projectes
•Bústia d'entrada
▪Intercanvi d'idiomes gratis
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
▪▪Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Totes les traduccions
Buscar
Traduccions sol·licitades - kazandibi00
Buscar
Idioma orígen
Idioma destí
Resultats 1 - 2 d'aproximadament 2
1
411
Idioma orígen
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Traduccions finalitzades
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1